- 谭会生;吴文志;张杰;
针对基于机器视觉的功率器件封装缺陷检测技术实时性差、计算资源消耗较高的问题,基于现场可编程门阵列(FPGA)设计了一种功率器件封装缺陷实时检测器。首先,提出一种基于深度可分离卷积(DSConv)的轻量化Mini-DSCNet卷积网络,使用深度卷积和逐点卷积代替标准卷积。仿真结果表明,该模型的浮点运算量(FLOPs)和参数量(Params)分别约为MobileNetV1的4.375%和0.021%,准确率约为91.80%。其次,采用定点量化算法将浮点数权重量化为有符号定点数,测试结果表明,其平均误差约为0.483%。最后,采用多通道并行流水线架构优化设计,降低了系统的资源消耗,提高了系统的处理速度。实验结果显示,在100 MHz时钟频率下,该检测器的推理速度分别约为CPU的17.10倍、GPU的2.47倍,显著提升了功率器件封装缺陷检测的实时性。
2025年10期 v.50;No.446 1048-1056页 [查看摘要][在线阅读][下载 1805K] [下载次数:149 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:0 ] - 王昊舟;王珺;
针对封装基板的翘曲预测问题,提出一种基于循环神经网络(RNN)与双向长短期记忆(Bi-LSTM)网络相结合的机器学习方法,构建封装基板翘曲预测模型。该模型可预测非对称基板翘曲分布,并有效提高预测效率与准确性。为获取模型训练所需数据集,开发了随机游走自动布线算法,生成不同特征的基板布线结构,并利用铜迹线强化有限元分析(FEA)方法获取翘曲分布数据。研究结果表明,Bi-LSTM网络模型在80个训练周期内误差收敛至0.05 mm~2以下,结构相似性衡量指标(SSIM)均大于0.7;在非训练集铜布线验证样本上表现出良好的泛化能力,并且预测时间仅需数秒,预测速度显著快于FEA,为基板设计提供了快速、准确的翘曲预测新途径,有助于提高优化迭代效率。
2025年10期 v.50;No.446 1057-1066页 [查看摘要][在线阅读][下载 2229K] [下载次数:128 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:0 ] - 胡彬;朱文彬;王鸣昕;朱晓春;
球栅阵列(BGA)锡球缺陷的高效检测是保障芯片质量的核心环节,而缺陷样本的稀缺性为基于深度学习方法的有效训练带来了挑战。设计了一种基于前景-背景加权融合的数据增强方法,有效缓解了训练样本的不足,并提出了一种基于YOLOv10n的BGA锡球缺陷检测算法EMP-YOLOv10n。首先,构建跨尺度高效特征融合网络(EffiFuseNet),在减少参数量(Params)的同时,增强对缺陷细节的捕捉能力;其次,引入一种新型C2f_MLCA模块,以提高对小目标缺陷的检测精度;最后,提出一种轻量化检测头(P-Detect)模块,在保留有效信息的同时显著减小了计算量。实验结果显示,与基准模型YOLOv10n相比,EMP-YOLOv10n的平均精度均值(mAP)提高了3.4%,召回率(R)提高了6%,Params减少了42.3%,计算复杂度降低了34.1%,这表明该模型有效提高了基于深度学习的BGA锡球缺陷检测的准确性和实时性。
2025年10期 v.50;No.446 1067-1077页 [查看摘要][在线阅读][下载 1952K] [下载次数:146 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:0 ] - 童颜;莫申扬;刘克明;骆健;邓二平;
为满足基于电压源换流器的高压直流(VSC-HVDC)柔性输电设备对绝缘栅双极晶体管(IGBT)器件散热与可靠性的严苛要求,提出了基于铝/金刚石和铜/金刚石复合金属基板的压接式IGBT封装设计。通过对比焊接式与压接式IGBT的热阻模型,揭示了基板热阻在结-壳热阻中的占比。经稳态及瞬态热阻抗分析表明,金刚石基板凭借高热导率和高热容特性,可显著提高结温控制能力。仿真结果表明,采用金刚石基板的器件与传统钼铜基板相比,其结温降幅最大可达18℃,热稳态响应时间显著延长。通过20 000次功率循环老化试验验证,金刚石基板封装IGBT的结-壳热阻及静态参数稳定性良好,其近似硅的热膨胀系数(CTE)具备优异的热机械可靠性。金刚石复合金属基板可有效提升压接式IGBT的结温控制能力,为高压大功率器件封装提供了可靠的解决方案。
2025年10期 v.50;No.446 1078-1084+1092页 [查看摘要][在线阅读][下载 1597K] [下载次数:70 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:0 ] - 金红霞;饶张飞;秦凯亮;薛栋;
为解决复杂工艺环境下多元素掺杂质量分数在线监测的难题,提出一种基于晶圆级介电薄膜参考样片的掺杂质量分数设计与定量检测方法。基于全因子设计与中心复合分布,制定了介电薄膜掺杂参考样片设计方案,结合次常压化学气相沉积(SACVD)工艺与Si_3N_4阻隔膜技术制备了6英寸(1英寸=2.54 cm)硼磷硅酸盐玻璃(BPSG)掺杂参考样片。采用傅里叶变换红外(FTIR)光谱技术对参考样片进行特征峰吸光度分析,构建硼、磷掺杂质量分数的定量校准模型,实现了双元素同步检测。校准集分析结果显示,该模型对硼、磷掺杂质量分数的预测值与标准值的决定系数(R~2)分别达0.998和0.995;在验证集下该模型对硼、磷掺杂质量分数的预测误差分别仅为0.22%和0.17%,各项指标均满足集成电路工艺的精度要求。
2025年10期 v.50;No.446 1085-1092页 [查看摘要][在线阅读][下载 1163K] [下载次数:18 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:0 ] 下载本期数据